基于微弱直流信號的噪聲理論，外部干擾噪聲存在于環(huán)境中，并不受檢測電路控制，因此，在直流微電阻測量中，主要研究如何降低內(nèi)部固有噪聲源對測量結果的影響。
在微電阻測量中，有以下幾種內(nèi)部固有噪聲誤差來源，導體內(nèi)部的熱噪聲會帶來溫差電勢誤差，導體間接觸噪聲會帶來接觸電勢誤差，接觸電勢和溫差電勢的共同作用產(chǎn)生熱電勢；導體和環(huán)境之間因為電子極化也會產(chǎn)生電化學電動勢誤差；而且測量電路本身也存在失調(diào)和溫差誤差。
熱電勢是微弱直流電壓測量中zui常見的誤差源，熱電勢包括接觸電勢和溫差電勢。
接觸電勢是由兩種不同的導體內(nèi)部因電子密度不同而在接觸面上擴散運動造成的，并且隨著溫度變化而變化。電子測量系統(tǒng)中，存在著多種導體，如銅、金、銀、錫、鍺、碳、鉛、氧化銅等導體，則測量系統(tǒng)中勢必會存在接觸電勢。測量系統(tǒng)放大電路內(nèi)部的接觸電勢的影響可采用多種技術加以消除，但是信號輸入回路的接觸電勢的影響消除的難度較大，因此應盡可能的采用同質(zhì)材料進行連接。
同一種導體當其兩端溫度不同時，高溫端電子向低溫端遷移運動從而造成溫差電勢，這一現(xiàn)象又稱為湯姆遜效應。顯然，電子測量系統(tǒng)存在溫度場的分步不均現(xiàn)象：元器件內(nèi)外溫度不同，同一元器件不同的區(qū)域溫度不同，所以必然存在溫差電勢。雖然電子測量系統(tǒng)內(nèi)部的溫差電勢的影響可以消除，但信號輸入回路的接觸電勢的影響有時很難消除，這時，盡可能的保持測量系統(tǒng)溫度場分布均勻。
如前所述，熱電勢是由不同材料的導體接觸以及導體結點溫度的差異造成的。
由上可見，雖然銅一銅接觸所產(chǎn)生的熱電動勢很小，但如果銅質(zhì)材料連接不良，并且存在氧化時，熱電勢對微弱直流信號測量的影響是相當大的 。